品牌 | 正臺ZTCK | 適用領(lǐng)域 | 科研 |
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溫度范圍 | -65~+150℃ | 溫度波動度 | ±0.5~±1.0℃ |
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溫度均勻度 | ±0.5% | 額定電壓 | 380V |
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重量 | 580kg | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 是 | | |
液態(tài)冷熱沖擊試驗機用途: 適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、BGA 、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(沖擊 ),適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
液態(tài)冷熱沖擊試驗機滿足標準: GJB150.5-86溫度沖擊試驗 GJB360.7-87溫度沖擊試驗 GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法 GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法 IEC68-2-14 試驗N:溫度變化 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法 MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法
主要參數(shù)
n溫度暴露范圍:+60℃ ~ +150℃/-65℃ ~ 0℃
n測試時間: ≥10minn溫度轉(zhuǎn)換時間:≥30Sn測試方式:試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中.型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C | 模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中,通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內(nèi) | 試驗樣品尺寸(mm) | 130×180×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×220×160 【W(wǎng)*H*D】 | 預(yù)冷溫度范圍 | -70℃~0℃ | 預(yù)熱溫度范圍 | +60℃~+200℃ | 溫度沖擊范圍 | -40℃~+150℃/-65℃~+150℃ | 使用電源 | AC 3¢5W 380V 60/50Hz |
制冷系統(tǒng):
1、制冷系統(tǒng)及壓縮機:為了保證試驗箱降溫速率和低溫度的要求,本試驗箱采用一套法國taikang全封 閉二元復(fù)疊式制冷系統(tǒng)壓縮機所組成。 2、制冷劑:采用美國DUPONT公司產(chǎn)R404A(低壓循環(huán))、R23(高壓循環(huán))環(huán)保制冷劑。 3、制冷輔助件:膨脹閥(丹麥“DANFOSS")電磁閥(日本),過濾器(丹麥“DANFOSS"),壓力控制器(丹“DANF OSS"),油壓保護(丹麥“DANFOSS"),截止閥(意大利CAS),油分離器(歐美ALCO)等制冷配件均采用進口件.
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